时间：2019-07-03 点击量：次
各位老师、同学：
近期微纳操纵及原位光电分析测试系统和FEI场发射扫描电镜受到不明原因的电磁干扰的影响，导致二次电子和背散射电子成像不稳定。电磁干扰时间间隔有一定规律性，但也不排除较长时间持续的干扰。对照片质量要求高及无法较长时间等待的老师和同学，请联系相关负责老师取消测试。
材料成形与模具技术国家重点实验室
2019年7月3日7月3日
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