设备介绍
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霍尔效应分析仪

时间:2019-01-15 点击量:次


资产编号:01301523

设备名称:霍尔效应分析仪

设备型号:HMS-5500

生产厂家:韩国ECOPIA

 

设备简介

本设备采用范德堡测试法,用于测量半导体器件和材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、电导率以及霍尔系数等电学特性。可进行常温、低温、高温以及变温测试。

主要技术指标

1. 电阻率:10-4 ~107 Ω/cm。

2. 载流子浓度:107~1021 cm-3。

3. 输入电流:1 nA~20 mA。

4. 测量温度范围:100~773 K。

主要功能

用于测试半导体材料(如Si、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN、ZnO等)的电阻率、载流子浓度、迁移率、电阻率、电导率、霍尔系数等特性参数,分析半导体材料的导电特性和掺杂行为。

样品要求

样品为薄片,截面尺寸≤15×15 mm2,厚度≤2 mm。

 

安放地点:先进制造工程大楼西楼三楼C305室

联系人及联系方式:周老师    158 2707 4699

 

通讯地址:  湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号先进制造工程大楼西楼

邮政编码:  430074

联系电话:  027-87554405

E-mail:  matproc@hust.edu.cn