设备介绍
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霍尔效应分析仪

作者: 时间:2019-01-15 点击量:


资产编号01301523

设备名称霍尔效应分析仪

设备型号HMS-5500

生产厂家韩国ECOPIA

 

设备简介

本设备采用范德堡测试法,用于测量半导体器件和材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、电导率以及霍尔系数等电学特性。可进行常温、低温、高温以及变温测试

主要技术指标

1. 电阻率:10-4 ~107 Ω/cm

2. 载流子浓度:107~1021 cm-3

3. 输入电流:1 nA~20 mA

4. 测量温度范围:100~773 K

主要功能

用于测试半导体材料(如SiSiGeSiCGaAsInGaAsInPGaNZnO等)的电阻率、载流子浓度、迁移率、电阻率、电导率、霍尔系数等特性参数,分析半导体材料的导电特性和掺杂行为

样品要求

样品为薄片,截面尺寸15×15 mm2厚度2 mm。

 

安放地点先进制造工程大楼西楼三楼C305室

联系人及联系方式老师    158 2707 4699

 

地址:材料成形与模具技术全国重点实验室
邮编:430074 | 电话:027-87554405

E-mail:matproc@hust.edu.cn  

地址:湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号先进制造工程大楼西楼