仪器（设备）名称：透射电子显微镜

型号：JEM2100

生产厂家：日本电子株式会社

仪器介绍：

JEM-2100透射电镜属中高压、高分辨透射电子显微镜，其最大特点是能反映样品的内部结构，能从纳米乃至原子尺度上实现金属、陶瓷、半导体、高分子、纳米等材料的显微形貌、晶体结构、化学成份、界面结构、表面以及缺陷等的观察分析，是研究各种材料的微观结构与性能关系所不可缺少的工具。

应用范围：

广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。

技术参数：

1.电子枪：LaB6（六硼化镧）

2.点分辨率：0.23nm，线分辨率：0.14nm

3.加速电压： 200KV

4.束斑尺寸：1.0-25nm

5.放大倍数：20-1500000

6.倾斜角：X轴±30°；Y轴±30°

送样须知：

1. 网上预约填写申请时，请如实并完整填写样品及其数量、状态、有无特殊性质等信息，信息不完整的申请单将予以退回重约；

2.欲测试的样品必须符合TEM的测试要求。原则上禁止做磁性、含挥发性成分或在强电子束流下易分解的样品；

3.制样要求正确、规范，不熟悉制样要求的请提前咨询管理人员或操作人员；

主要附件配置：

1.英国Oxford INCA能谱仪（分辨率：在Mn Ka线处测量分辨率≤127 eV，轻元素检测：轻元素BN可以良好区分）

2.美国Gatan公司830 ORIUS CCD相机

3.单、双倾样品台

安放地点：

先进制造大楼西楼一楼中间实验室

联系方式：

葛老师 18971057120