仪器（设备）名称：热场发射扫描电子显微镜

型号：JSM-7600F

生产厂家：日本电子

仪器介绍：

JSM-7600F是日本电子株式会社2008年下半年推出的兼顾冷场的高分辨率和热场大束流为一体的热场发射扫描电镜。它几乎集成了当今扫描电镜的全部前沿技术，最大200nA的大电流在保证高分辨率的同时，得到高速样品分析结果，空间分辨率极高，对导电性差的样品也有很多种解决办法。JSM-7600F可以称得上是一款高档次的场发射扫描电镜。

应用范围：

广泛应用于纳米材料、复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、电子材料等表面微观形貌观察及成分分析。结合EBSD实现织构及取向差分析,晶粒尺寸及形状的分析,晶界、亚晶及孪晶性质的分析,相鉴定及相比计算,应变测量等。

技术参数：

加速电压：0.1KV-30kV
放大倍数：25-100万倍

样品室尺寸：最大200mm直径样品
束流强度：1pA到200nA

分辨率：1.0nm at 15kV；1.5nm at 1kV

送样须知：

1. 网上预约填写申请时，请如实并详细填写样品数量、状态、尺寸规格、有无特殊性质以及是否需要喷金，信息不完整的申请单将予以退回重约；

2.欲测试的样品必须符合FESEM的测试要求。原则上禁止做磁性、含挥发性成分或在强电子束流下易分解的样品；

3.制样要求正确、规范，喷金样品请提前准备；不熟悉制样要求的请提前咨询管理人员或操作人员；

注：如送样人员提供虚假信息，造成仪器故障事故，须承担相应的责任。

主要附件配置：

牛津能谱、牛津1.5nm高分辨LABE背散射探头、牛津EBSD

安放地点：

先进制造大楼西楼一楼中间实验室

联系方式：

吴老师 15827307180