仪器名称：原位纳米压痕仪

仪器型号：TI750

生产厂家：美国Bruker

仪器简介：

美国Bruker生产的TI750型号的原位微纳米力学测试系统包含先进数控模块、原位SPM（扫描探针显微技术）成像、数码变焦光学系统、自动定位平台、计算机工作站、专用控制软件、环境隔离罩、防震隔离系统、加热系统、多元化压头（含压痕用Berkovich压头、压缩专用特制平压头、弯曲实验专用压头、磨损实验专用压头、划痕专用压头及高温实验专用压头）、专用标样等，能够实现薄膜或其他金属或非金属材料的压痕、划痕、摩擦磨损、微弯曲、高温测试及微弯曲、NanoDMA、模量成像等功能。

主要技术参数：

1、纳米压痕测试单元

1）可实现70nN~30mN不同加载载荷，载荷分辨率为3nN；

2）位移分辨率：<0 .006nm，最小位移：<0 .2nm，最大位移：5um；

3）室温热漂移：<0 .05nm/s；

4）更换压头时间：60s。

2、纳米划痕测试单元：

1）最大划痕力（Z方向）：10mN；

2）最大摩擦力（X和Y方向）：2mN；

3）摩擦力分辨率（X和Y方向）：50nN；

4）最大划痕长度：15um；

5）最大划痕速度：100um/s。

3、纳米摩擦磨损测试单元：

1）摩擦力载荷分辨率：5nN；

2）最大摩擦力测量的正压力：≥5mN；

3）磨损面积范围：≥50umx50um；

4）磨损速率：≤180um/s。

4、Nano DMA测试单元：

1）频率范围：0.1Hz-300Hz；

2）最大动态振幅力：5mN；

3）最大准静态力：10mN；

4）载荷噪声层：<30nN ；

5）最大动态振幅：2.5μm；

6）最大准静态位移：5μm；

7）位移噪声层：<0 .2nm。

5、模量成像测试单元：

1） 最佳测试频率：200Hz；

2）一般采集像素点：256*256；

3）最大map面积：>60μm x 60μm；

4）Mechanical Property Maps分辨率：≤5nm。

应用范围：

广泛应用于薄膜、金属及非金属材料的压痕、划痕、摩擦磨损、微弯曲、高温测试及微弯曲anoDMA、模量成像等功能测试。

送样要求：

测试样品的高度不能超过3厘米，测试表面必须经过电解抛光处理。

安放位置：

先进制造大楼西楼B104-3

联系方式：

方老师 18064053868