仪器名称：X-射线荧光光谱仪

仪器型号：Zetium

生产厂家：荷兰Panalytical

仪器简介：

ZetiumX射线荧光光谱仪主要包括以下三个功能：

1.Omnian无标定量分析软件：可以分析各种固体或粉末样品；

2.Stratos多层膜分析软件：可结合Omnian无标定量分析程序，对镀层样品进行无标样分析，并可同时得到膜厚和膜组成信息，最多可分析多达16层膜；

3.微小区域分析模块：使用X射线能量色散通道（能谱核）进行微小区域分析，每一聚焦斑点上Na-Am的所有元素可同时得到光谱信号。

主要技术参数：

1.X射线波长色散通道（波谱核）

测量元素范围：C、N、O-Am；

测量浓度范围：ppm-100%；

照射方式：下照射方式；

X射线光管：铑靶，超尖锐端窗陶瓷光管；

铍薄窗厚度：75u；

灯丝：无挥发非钨灯丝，强度在使用寿命内无衰减；功率：4KW；最大额定电压：60KV；最大额定电流：160mA；

高压发生器：半导体固态高压发生器；最大输出功率4KW；最大输出电压60Kv；最大输出电流160mA；

测角仪定位形式：无磨损误差的直接光学定位系统；

测角仪定位角度重现性：优于±0.0001°

探测器：流气探测器；

晶体：LiF200，LiF220，Ge111，PE002及PX1多层人工膜晶体；

脉冲高度校正：自动、动态；

2.X射线能量色散通道（能谱核）

探测器类型：高分辨硅漂移（SDD）探测器；

测量元素范围：Na-Am；

测量浓度范围：亚ppm-100%；

分辨率：≦135eV@5.9keV/1000cps；

最大计数率：1000kcps；

3.聚焦微小区域分析：

Mapping 时的扫描步长：0.1mm；

CCD照相机定位；

一般分析情况下，可在小于1分钟分析一个聚焦斑点并小于10h完成600个聚焦斑点的扫描；

应用范围：

X射线荧光光谱仪被广泛用于催化剂、金属、矿物、塑料、建材、石油化工、环保材料等研究领域，是对固体、粉末等样品进行各元素成分和含量测定的主要设备与分析手段。

送样要求：

块体样品的直径在32-35毫米。粉末样品无要求。

安放位置：

先进制造大楼西楼B104-3

联系方式：

方老师 18064053868